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Definition: EBSD (Electron Backscatter Diffraction) ist ein rasterelektronenmikroskopisches Analyseverfahren zur Bestimmung von Kornorientierung, Kristallstruktur und Phasenverteilung in Werkstoffen. Dabei werden rückgestreute Elektronen zur Erzeugung charakteristischer Beugungsmuster genutzt. Die Methode wird im REM integriert angewendet.

Relevanz für die Praxis: EBSD ermöglicht die quantitative Analyse von Texturen, Korngrenzencharakter (z. B. Σ-Werte), Deformationszuständen und Phasenumwandlungen. Die räumliche Auflösung liegt im Submikrometerbereich. Anwendungen finden sich in der Werkstoffentwicklung, Schadensanalyse und Bewertung additiv gefertigter Bauteile. Voraussetzung ist eine hochqualitative, spannungsfreie Probenpräparation.

Entscheidungsperspektiven:

• Technische Entscheider: Bewertung von Gefügeanisotropien und Prozessauswirkungen auf Kornstruktur.
• Einkauf/Projektleitung: Spezifikation detaillierter Gefügeanalysen bei qualitätskritischen Komponenten.
• Wissenschaft: Texturanalyse, Korngrenzstatistik und Validierung von Kristallplastizitätsmodellen.
• Versicherung/Recht: Mikroskopischer Nachweis von Gefügeabweichungen bei Schadensfällen.

Typische Prüf- oder Nachweisverfahren: EBSD-Mapping im REM, Phasenidentifikation, Korngrenzenanalyse, Kombination mit EDX.

FAQ:

• Wofür wird EBSD eingesetzt?
• Zur detaillierten Analyse von Kornorientierung, Textur und Phasen in metallischen und keramischen Werkstoffen.