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Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Geschrieben von technicalcenter am .

Definition: Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist ein bildgebendes Analyseverfahren, bei dem eine Oberfläche mit einem fokussierten Elektronenstrahl rasterförmig abgetastet wird. Wechselwirkungen zwischen Elektronen und Probe erzeugen Signale wie Sekundär- (SE) oder Rückstreuelektronen (BSE). Das Verfahren ermöglicht hochauflösende Untersuchungen im Nanometerbereich.

Relevanz für die Praxis: REM wird für Fraktographie, Gefügeanalyse, Partikelcharakterisierung und Beschichtungsbewertung eingesetzt. In Kombination mit EDX ist eine ortsaufgelöste Elementanalyse möglich, mit EBSD eine Kornorientierungsanalyse. Probenvorbereitung, Leitfähigkeit und Beschichtung beeinflussen Bildqualität und Analyseergebnis wesentlich.

Entscheidungsperspektiven:

  • Technische Entscheider: Identifikation von Rissursachen, Einschlüssen oder Grenzflächenproblemen.
  • Einkauf/Projektleitung: Beauftragung fundierter Schadens- oder Werkstoffanalysen.
  • Wissenschaft: Untersuchung mikro- und nanoskaliger Strukturen und Phasenverteilungen.
  • Versicherung/Recht: Gerichtsfeste Dokumentation von Bruchflächen und Schadensmechanismen.

Typische Prüf- oder Nachweisverfahren: SE-/BSE-Bildgebung, REM-EDX-Analyse, EBSD-Mapping, Fraktographie.

FAQ:

  • Was ist der Vorteil eines REM gegenüber einem Lichtmikroskop?
  • Das REM bietet deutlich höhere Auflösung und größere Tiefenschärfe für detaillierte Gefüge- und Bruchflächenanalysen.