{"id":3295,"date":"2026-06-24T16:13:06","date_gmt":"2026-06-24T14:13:06","guid":{"rendered":"https:\/\/www.technical-center.de\/wiki\/met-microscopie-electronique-en-transmission\/"},"modified":"2026-06-24T16:13:06","modified_gmt":"2026-06-24T14:13:06","slug":"met-microscopie-electronique-en-transmission","status":"publish","type":"encyclopedia","link":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/glossaire\/met-microscopie-electronique-en-transmission\/","title":{"rendered":"MET (microscopie electronique en transmission)"},"content":{"rendered":"<div class=\"glossar-eintrag\">\n<p><strong>Definition :<\/strong> La microscopie electronique en transmission (MET) est une methode d&rsquo;analyse a haute resolution dans laquelle un faisceau d&rsquo;electrons traverse un echantillon extremement mince. Les interactions produisent des informations d&rsquo;image et de diffraction avec une resolution atomique ou nanometrique. La methode permet l&rsquo;etude de la structure cristalline et des defauts.<\/p>\n<p><strong>Pertinence pratique :<\/strong> La MET est utilisee pour l&rsquo;analyse des precipites, des dislocations, des limites de phases et des nanostructures. Des techniques complementaires comme la diffraction electronique (SAED) ou le STEM-EDX permettent des analyses structurelles et chimiques detaillees. La preparation des echantillons (p. ex. lames FIB) est laborieuse et exige un grand soin.<\/p>\n<p><strong>Perspectives decisionnelles :<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li><strong>Decideurs techniques :<\/strong> Etude des defauts a l&rsquo;echelle nanometrique ou des mecanismes de defaillance dans les materiaux haute performance.<\/li>\n<li><strong>Achats\/gestion de projet :<\/strong> Commande d&rsquo;analyses specialisees pour des questions complexes de developpement ou de defaillance.<\/li>\n<li><strong>Science :<\/strong> Analyse des structures atomiques du reseau, identification des phases et caracterisation des defauts.<\/li>\n<li><strong>Assurance\/droit :<\/strong> Mise en evidence a haute resolution de defauts de materiau dans les cas de sinistre litigieux.<\/li>\n<\/ul>\n<p><strong>Methodes d&rsquo;essai ou de verification typiques :<\/strong> Imagerie MET, diffraction SAED, analyse STEM-EDX, preparation d&rsquo;echantillons FIB.<\/p>\n<p><strong>FAQ :<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Quel est l&rsquo;avantage de la MET par rapport au MEB ?<\/li>\n<li>La MET atteint des resolutions nettement plus elevees et permet l&rsquo;analyse des structures cristallines a l&rsquo;echelle atomique.<\/li>\n<\/ul>\n<\/div>\n","protected":false},"author":0,"featured_media":0,"template":"","encyclopedia-tag":[],"class_list":["post-3295","encyclopedia","type-encyclopedia","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/encyclopedia\/3295","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/encyclopedia"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/encyclopedia"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=3295"}],"wp:term":[{"taxonomy":"encyclopedia-tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/encyclopedia-tag?post=3295"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}