{"id":3291,"date":"2026-06-24T16:13:06","date_gmt":"2026-06-24T14:13:06","guid":{"rendered":"https:\/\/www.technical-center.de\/wiki\/analyse-spectrale\/"},"modified":"2026-06-24T16:13:06","modified_gmt":"2026-06-24T14:13:06","slug":"analyse-spectrale","status":"publish","type":"encyclopedia","link":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/glossaire\/analyse-spectrale\/","title":{"rendered":"Analyse spectrale"},"content":{"rendered":"<div class=\"glossar-eintrag\">\n<p><strong>Definition :<\/strong> L&rsquo;analyse spectrale est une methode analytique permettant de determiner la composition chimique d&rsquo;un materiau a partir de spectres d&#8217;emission ou d&rsquo;absorption caracteristiques. Elle exploite les raies spectrales propres a chaque element pour une analyse qualitative et quantitative. En science des materiaux, elle sert a determiner les elements d&rsquo;alliage et les elements traces.<\/p>\n<p><strong>Pertinence pratique :<\/strong> Les methodes typiques sont la spectrometrie d&#8217;emission optique (OES), l&rsquo;analyse par fluorescence X (FX\/XRF) ou l&rsquo;ICP-OES. Les limites de detection et la precision dependent de la methode et de la preparation des echantillons. Les applications sont les controles de reception, les essais PMI et les analyses de defaillance. Les resultats sont compares aux specifications de materiau normatives.<\/p>\n<p><strong>Perspectives decisionnelles :<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li><strong>Decideurs techniques :<\/strong> garantie d&rsquo;une composition de materiau correcte pour les composants critiques pour la securite.<\/li>\n<li><strong>Achats\/gestion de projet :<\/strong> verification des garanties des fournisseurs conformement aux normes de materiaux.<\/li>\n<li><strong>Science :<\/strong> validation de la precision analytique et comparaison de differentes methodes de spectrometrie.<\/li>\n<li><strong>Assurance\/droit :<\/strong> preuve documentee des ecarts de materiau en cas de mise en cause de la responsabilite.<\/li>\n<\/ul>\n<p><strong>Methodes d&rsquo;essai ou de verification typiques :<\/strong> OES, FX (XRF), ICP-OES, comparaison avec des materiaux de reference.<\/p>\n<p><strong>FAQ :<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Quelle est la difference entre l&rsquo;OES et la FX ?<\/li>\n<li>L&rsquo;OES utilise les raies d&#8217;emission apres excitation par etincelle, la FX <a class=\"tc-inlink\" href=\"\/fr\/etalonnage-metrologie\/\">mesure<\/a> le rayonnement X fluorescent sans enlevement de matiere.<\/li>\n<\/ul>\n<\/div>\n","protected":false},"author":0,"featured_media":0,"template":"","encyclopedia-tag":[],"class_list":["post-3291","encyclopedia","type-encyclopedia","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/encyclopedia\/3291","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/encyclopedia"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/encyclopedia"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=3291"}],"wp:term":[{"taxonomy":"encyclopedia-tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/encyclopedia-tag?post=3291"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}