{"id":3245,"date":"2026-06-24T16:13:05","date_gmt":"2026-06-24T14:13:05","guid":{"rendered":"https:\/\/www.technical-center.de\/wiki\/fib-focused-ion-beam-2\/"},"modified":"2026-06-24T16:13:05","modified_gmt":"2026-06-24T14:13:05","slug":"fib-focused-ion-beam-2","status":"publish","type":"encyclopedia","link":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/glossaire\/fib-focused-ion-beam-2\/","title":{"rendered":"FIB (Focused Ion Beam)"},"content":{"rendered":"<p><strong>Definition :<\/strong> Le FIB (Focused Ion Beam, faisceau d&rsquo;ions focalise) est un procede microscopique dans lequel un faisceau d&rsquo;ions focalise &#8211; le plus souvent des ions gallium &#8211; est utilise pour l&rsquo;ablation ou le depot cible de matiere. Il sert a la preparation d&rsquo;echantillons de haute precision et a l&rsquo;etude de la microstructure dans la plage du submicrometre au nanometre. Le FIB est souvent combine a un microscope electronique a balayage (FIB-MEB).<\/p>\n<p><strong>Pertinence pratique :<\/strong> Le FIB permet de realiser des coupes locales, des lames TEM ou des tomographies 3D par ablation serielle. Les applications se trouvent dans l&rsquo;analyse de defaillance, la technologie des semi-conducteurs, l&rsquo;evaluation des revetements et la recherche sur les materiaux. Les parametres decisifs sont le courant du faisceau, la tension d&rsquo;acceleration et la minimisation de l&rsquo;implantation ionique ou des dommages causes par le faisceau.<\/p>\n<p><strong>Perspectives decisionnelles :<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li><strong>Decideurs techniques :<\/strong> Etude des defauts locaux, des interfaces et des microfissures avec une haute resolution spatiale.<\/li>\n<li><strong>Achats\/gestion de projet :<\/strong> Commande d&rsquo;analyses specialisees pour des questions complexes de defaillance ou de developpement.<\/li>\n<li><strong>Science :<\/strong> Preparation d&rsquo;echantillons TEM, reconstructions 3D et analyses de microstructure a l&rsquo;echelle nanometrique.<\/li>\n<li><strong>Assurance\/droit :<\/strong> Conservation microscopique des preuves dans les litiges relatifs aux materiaux.<\/li>\n<\/ul>\n<p><strong>Methodes d&rsquo;essai ou de verification typiques :<\/strong> Analyse de coupe FIB, preparation de lames TEM, tomographie FIB 3D, combinaison avec EDX ou EBSD.<\/p>\n<p><strong>FAQ :<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>A quoi sert un systeme FIB ?<\/li>\n<li>A la preparation d&rsquo;echantillons de haute precision, a l&rsquo;analyse locale de la microstructure et a l&rsquo;etude des defauts a l&rsquo;echelle nanometrique.<\/li>\n<\/ul>\n","protected":false},"author":0,"featured_media":0,"template":"","encyclopedia-tag":[],"class_list":["post-3245","encyclopedia","type-encyclopedia","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/encyclopedia\/3245","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/encyclopedia"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/encyclopedia"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=3245"}],"wp:term":[{"taxonomy":"encyclopedia-tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.technical-center.de\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/encyclopedia-tag?post=3245"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}